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TR7500 SII

产品编号:TR7500 SII

产品全称:TR7500 SII

  • 产品描述
  • 产品特性
  • 产品规格
    配备大尺寸FOV的上视3CCD彩色相机与四个倾斜角度之相机系统,TR7500 SII AOI不仅拥有TR7500的功能,其检测速度更快两倍以上,为超高速及高检测涵盖率的机种。此系统适于检测分辨率范围10µm 到15 µm,利用TRI的动态取像技术,不同于走停式,动态取像能将可能之震动干扰降至最低,适合于炉前与炉后检测使用。TR7500 SII有多区域且高弹性的RGB+W彩色光源系统,配合低角度的光源设计,可提供极性及黑色元器件更好的检测方案,并且可针对无铅和传统组装电路板上的微小元件01005及提供更精准稳定的检测能力。
• 超高速在线型彩色AOI可涵盖完整检测
• 精准的大FOV之3CCD彩色相机可检测01005微小元件
• 先进的RGB+W光源系统可提升锡点与标点之检测效果

 • 相机类型

 

1个上视 3CCD 彩色相机 + 4个 侧视黑白相机

 • 光学分辨率

 

10 μm, 12 μm 或 15 μm

 • 取像方法

 

动态取像

 • 检测速度

 

42 cm2/sec @ 10 μm

 

95 cm2/sec @ 15 μm

 • 检测项目

。元件缺陷

 

缺件、立碑、侧立、极反、偏移、错件、反件、损件等

。焊点缺陷

 

多锡、少锡、桥接/短路、DIP类元件吃锡、IC翘脚、金手指表面刮伤黏锡缺损

 • 炉前/炉后整合

 

良率管理系统

 • 系统尺寸

。电路板可测尺寸

 

TR7500 SII            50 x 50 – 510 x 460 mm

 

TR7500L SII          50 x 50 – 660 x 610 mm

。电路板可测最大厚度

 

4 mm